忆阻器基础性能研究

基于普赛斯数字源表(SMU)的忆阻器 基础性能研究测试解决方案

忆阻器基础性能研究 专注于半导体电性能测试 基于经典的电路理论,存在四个基本的电路物理量,即电流(i)、电压(v)、电荷(q)以及磁通(o)。根据这四个基本的物理量,理论上能够推导出六种数学关系,同时定义三种基...